镀层膜厚测试仪,x,ray膜厚测试仪_深圳市金东霖科技有限公司 | |||
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备 案 | 备案号:浙B2-20080178-1 | 电 话 | 400-xxxx开通 |
性 质 | 企业 | 名 称 | 杭州滨兴科技股份有限公司 |
年 龄 | 15年6月30日(创建于2004年12月22日) | 审 核 | 2018-11-20 |
协 议 | HTTP/1.1 200 OK | 页 面 | text/html; charset=utf-8 |
服务器 | Microsoft-IIS/7.5 | 程 序 | |
标 识 | 消 息 | 2020年7月20日 8时14分24秒 | |
GZIP | 已启用GZIP压缩 | 源文件 | 26.64KB |
压缩后 | 12.28KB | 压缩率 | 53.91% |
修 改 | 未知 | 收 录 | 2020-08-04 22:49:01 |
网 站 标 题 |
镀层膜厚测试仪,x,ray膜厚测试仪_深圳市金东霖科技有限公司 |
网 站 关 键 词 |
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网 站 描 述 |
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